仪器设备
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◇变温Hall效应测试仪(77K-350K)

◇变温PL-EL谱测试仪(10K-300K)

◇紫外/可见光透射谱仪(190nm-1100nm)

◇基于汞探针的C-V测试仪(5KHz-5MHz)

◇Agilent 5400 AFM/STM系统

◇Bruker D8Discover HRXRD系统



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